隨著全球?qū)で箅姎饣蕴岣吣茉蠢眯什⑥D(zhuǎn)向可再生能源,寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)如氮化鎵 (GaN)
的時機已愈加成熟。傳統(tǒng)硅MOSFET和IGBT的性能已接近材料的理論極限,進一步的發(fā)展只能帶來微小的改善,進展緩慢且成本高昂。氮化鎵晶體管顯著提升了功率轉(zhuǎn)換效率,并且具有體積小、可靠性高等附加優(yōu)勢。
因此,這些設(shè)備廣泛應(yīng)用于重要的設(shè)計,如電源適配器、墻面充電器、電動汽車充電系統(tǒng)、工業(yè)和醫(yī)療電源以及電動機驅(qū)動器。最終用戶將在新一代設(shè)備進入市場時體驗到這一革命,這些設(shè)備的形態(tài)更為纖薄,便于攜帶,且運行溫度低于其前身。GaN 技術(shù)在D類音頻放大器中同樣展現(xiàn)了優(yōu)勢,包括更長的電池運行時間、在便攜和移動應(yīng)用中的更小體積,以及潛在的更優(yōu)音質(zhì)。
GaN 晶體管的幾個重要優(yōu)勢源于其相對于硅材料的較低寄生效應(yīng)。特別是,較低的門源電容 (CGS) 和門漏電容 (CGD) 值使得開關(guān)過程中的能量損失降低。圖1比較了使用硅和GaN技術(shù)實現(xiàn)的48V到3.3V降壓轉(zhuǎn)換器的效率,顯示出GaN在高輸出電流下具有顯著的效率優(yōu)勢。
此外,電容的快速充放電導(dǎo)致延遲和過渡時間縮短,使工程師能夠設(shè)計 MHz 范圍內(nèi)的開關(guān)頻率應(yīng)用。這允許使用更小的儲能元件,直接提高功率密度。在D類放大器中,高開關(guān)頻率能提高音頻保真度。此外,低CGS值在需要低占空比的應(yīng)用中(如具有高降比的降壓調(diào)節(jié)器)增強了開關(guān)控制。
解鎖GaN的優(yōu)勢
電源需要控制,這一原則在驅(qū)動GaN晶體管的開關(guān)電路中同樣適用。門驅(qū)動器在最大化GaN晶體管效率優(yōu)勢的同時,保護器件結(jié)構(gòu)以確保可靠性,發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
MinDCet開發(fā)了MDC901驅(qū)動IC,具備專為確保安全、快速和高效的GaN開關(guān)而設(shè)計的特點,利用其在高性能、高可靠性ASIC和系統(tǒng)(包括輻射耐受的太空級組件)制造方面的經(jīng)驗,旨在提升性能和節(jié)能。圖2強調(diào)MDC901門控制器所需的PCB面積比可比門驅(qū)動解決方案的外部元件小五倍。
過充保護
GaN晶體管中的柵氧化層相對脆弱,過高的電壓可能會造成損壞。柵環(huán)路中寄生電感的行為、開關(guān)過程中晶體管電容的充放電,以及信號線上出現(xiàn)的感應(yīng)電壓,都是可能將低側(cè)晶體管暴露于潛在危險的高門源電壓 (VGS) 的因素。
保護門極免受過電壓影響的方法有多種。其中一種是增加外部鉗位電路,但這往往會增加功耗和電路占地面積,PCB的寄生效應(yīng)也限制了其有效性。另一種選擇是在GaN晶體管中內(nèi)置保護,代價則是增加器件的復(fù)雜性和成本。MinDCet的MDC901半橋門驅(qū)動器通過為高側(cè)和低側(cè)驅(qū)動電路集成真正的浮動電壓線性調(diào)節(jié)器 (LDO),保護GaN門極。這些LDO將電壓嚴格調(diào)節(jié)至可編程的5或6 V,從而有效防止過電壓,同時讓設(shè)計師更廣泛選擇沒有內(nèi)部保護的GaN晶體管。
死區(qū)時間控制
為了實現(xiàn)GaN技術(shù)在功率轉(zhuǎn)換中所能帶來的全部效率提升,設(shè)計者需要了解寄生電容的行為以及允許當VGS = 0 V時晶體管反向?qū)ǖ奈锢碓?。與此相比,普通的硅MOSFET具有導(dǎo)通的本體二極管,而GaN晶體管沒有。當VGS = 0 V時,器件自我換向,使自由輪流電流通過晶體管的漏源通道流動。這具有多個優(yōu)勢,包括消除與本體二極管反向恢復(fù)相關(guān)的損耗,以及在二極管開啟時產(chǎn)生的內(nèi)部噪聲。
另一方面,晶體管的電壓降比硅MOSFET的本體二極管對應(yīng)電壓降要大。在半橋中,由于這個電壓降造成的損耗發(fā)生在晶體管死區(qū)時間內(nèi)。因此,較短的死區(qū)時間有助于最小化這些損耗,提高效率。另一方面,不足的死區(qū)時間會導(dǎo)致?lián)p耗,因為漏源電容通過互補晶體管放電。
理想的死區(qū)時間依賴于具體應(yīng)用。因此,死區(qū)時間控制是合適的GaN驅(qū)動器的一個理想特征,有助于設(shè)計師優(yōu)化性能和效率。此外,控制還確保死區(qū)時間在應(yīng)用的生命周期中是已知且恒定的。
MDC901提供數(shù)字輸入,使得可以為半橋操作的開通和關(guān)斷階段設(shè)置死區(qū)時間。如有需要,驅(qū)動器也可以自動設(shè)置死區(qū)時間。對GaN門電壓的閉環(huán)監(jiān)測提供了安全保障,確保高側(cè)或低側(cè)晶體管只有在互補器件關(guān)閉時才會開啟。
輸出驅(qū)動強度
GaN技術(shù)的一大優(yōu)勢在于其能夠快速在開和關(guān)狀態(tài)之間切換,從而最小化損耗。實現(xiàn)短的開關(guān)過渡時間依賴于提供足夠的柵電流。MDC901的最大柵驅(qū)動強度為10 A,能夠確??焖俚拈_關(guān)過渡,即便多個GaN晶體管并聯(lián)連接。
雖然快速開關(guān)通常是優(yōu)先考慮的事項,但也必須注意調(diào)節(jié)速度以避免振鈴。這通常通過根據(jù)門電路的電感和晶體管門電容選擇電阻來實現(xiàn)。驅(qū)動器通常將這些電阻集成,以便控制開通/關(guān)斷電流。
MDC901采取了不同的方法,強調(diào)使用外部電阻,將功率損耗轉(zhuǎn)移到驅(qū)動IC之外,減輕熱管理壓力并增強可靠性。驅(qū)動器提供獨立的拉高和拉低輸出,以便調(diào)節(jié)門驅(qū)動。此外,該驅(qū)動器設(shè)計可在輸出電壓低至-4 V時正常工作,以確保當電壓因源電感和負載條件而低于供電地時仍能正常操作。
高占空比
GaN晶體管快速開關(guān)能力的另一個重要優(yōu)勢是它們能夠在低占空比下高效工作。這在如具有大降比的功率轉(zhuǎn)換等應(yīng)用中尤為明顯。GaN使得可以直接將48 V總線轉(zhuǎn)換為1 V,且不需要中間階段,從而實現(xiàn)高效率。這不僅節(jié)省了材料清單成本,還減少了電路占地面積,消除了中間轉(zhuǎn)換損耗。GaN晶體管通過快速過渡來最小化開關(guān)損耗,使得整體轉(zhuǎn)換效率提高了10-15%,相較于在相同開關(guān)頻率下的硅MOSFET技術(shù)。
反過來,GaN的快速開關(guān)能力使得該技術(shù)適用于需要極高占空比的應(yīng)用。這包括D類放大器和電動機驅(qū)動器,尤其是在高轉(zhuǎn)速下工作時。當以持續(xù)高占空比運行時,由于泄漏效應(yīng)和其他負載偏置,提升電壓和施加在GaN晶體管門極上的電壓可能會降低。為應(yīng)對這一問題,MDC901驅(qū)動器集成了充電泵,以維持必要的門驅(qū)動偏置。這使得驅(qū)動器能夠在高達100%的占空比下運行,從而允許高側(cè)開關(guān)在較長時間內(nèi)保持開啟。MDC901還集成了引導(dǎo)二極管,幫助確保充足的門驅(qū)動強度。
圖3展示了驅(qū)動器的內(nèi)部特性,包括充電泵、死區(qū)時間生成器和浮動調(diào)節(jié)器。同時還集成了關(guān)鍵的系統(tǒng)安全特性,包括芯片溫度監(jiān)測、門信號輸出監(jiān)測和門電壓欠壓鎖定 (UVLO)。
為加速開發(fā),MinDCet推出了三款半橋評估板:MDC901-EVKHB、MDC901-15I-EVKHB 和 MDC901-2E-EVKHB,分別將MDC901驅(qū)動器與GaN Systems的100V GS61008P GaN HEMT、Innoscience的150V INN150LA070A FET 和 EPC2215 200V eGaN FET 結(jié)合在降壓轉(zhuǎn)換器拓撲中。第四個半橋評估板MDC901-15NEVKHB正在開發(fā)中,將使用Nexperia的150V GAN7R0-150LBE GaN FET,并將很快推出。每個板的尺寸為80mm x 90mm,開箱即用,提供一個緊湊的解決方案,隨時可以進行測試。
GaN門控結(jié)論
GaN晶體管可以直接嵌入已建立的功率轉(zhuǎn)換拓撲中,帶來更高的能源效率、更高的功率密度、更緊湊的產(chǎn)品尺寸、較低的運行溫度(更易熱管理)和更高的可靠性等優(yōu)勢。
最大化這些優(yōu)點需要一定的重新設(shè)計,特別是在控制晶體管方面。理想的門驅(qū)動器特性包括強大的電流吸收能力,以控制多個并聯(lián)的GaN器件、可配置的死區(qū)時間和對門過充的保護。MDC901還具備其他功能,包括集成的充電泵以支持高占空比應(yīng)用和內(nèi)置的系統(tǒng)保護特性,旨在解決醫(yī)療、工業(yè)、消費和汽車市場中對高能效應(yīng)用的需求。
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