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Nexperia推出高效耐用的1200 V SiC MOSFET,采用創(chuàng)新X.PAK封裝技術

作者: 浮思特科技2025-03-20 14:37:55

  近日,Nexperia宣布推出一系列新型的1200 V碳化硅(SIC)MOSFET,專為滿足工業(yè)應用中的高效能和耐用性需求而設計。這些新產(chǎn)品不僅具備卓越的溫度穩(wěn)定性,還采用了先進的表面貼裝(SMD)封裝技術,稱為X.PAK。這種封裝技術的創(chuàng)新之處在于其頂面冷卻設計,使得設備在高功率應用中能夠有效散熱,極大地提升了整體性能。

  新推出的X.PAK封裝尺寸緊湊,只有14 mm x 18.5 mm,結合了SMD封裝的組裝簡便性和通孔技術的優(yōu)越散熱性能,確保設備在運行中能夠保持最佳的熱量散發(fā)。這一設計旨在應對日益增長的高功率工業(yè)應用中對離散SiC MOSFET的需求,包括電池儲能系統(tǒng)(BESS)、光伏逆變器、電動機驅動和不間斷電源(UPS)等。

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  在許多高功率應用中,溫度管理是至關重要的。Nexperia的SiC MOSFET通過采用頂面冷卻技術,顯著改善了熱性能,使其在高溫環(huán)境下仍能穩(wěn)定運行。這些器件同樣適用于電動汽車的充電基礎設施,包括充電樁,成為支持可再生能源及電動交通工具發(fā)展的重要組成部分。

  Nexperia的X.PAK封裝不僅在熱效率上表現(xiàn)出色,還有效減輕了PCB上熱量散發(fā)的負面影響。這種封裝方法為表面貼裝元件提供了低電感特性,并支持自動化電路板的組裝,進而提高了整體設計的靈活性和可靠性。這對于需要高速生產(chǎn)和高質量標準的現(xiàn)代電子設備制造商而言,具有重要意義。

  在性能方面,Nexperia的SiC MOSFET繼續(xù)秉持其在行業(yè)內的領先地位,特別是在RDS(on)這一關鍵指標上。RDS(on)值直接影響到器件的導通損耗,然而許多制造商往往只關注其標稱值。Nexperia意識到,隨著工作溫度的上升,RDS(on)值可能會顯著增加,導致導通損耗加劇。相比之下,Nexperia的SiC MOSFET在25 °C至175 °C的廣泛操作范圍內,RDS(on)值的增加僅為38%,為用戶提供了更高的效率和更低的能耗。

  此次推出的初始產(chǎn)品陣容包括RDS(on)值為30 mΩ、40 mΩ和60 mΩ的三款器件,型號分別為NSF030120T2A0、NSF040120T2A1和NSF060120T2A0。此外,Nexperia還計劃在2025年4月推出一款17 mΩ的變體,以進一步豐富其產(chǎn)品線。未來,該公司將于2025年繼續(xù)擴展X.PAK封裝的產(chǎn)品組合,推出符合汽車應用標準的SiC MOSFET,并引入更多RDS(on)分類,比如80 mΩ等,以滿足更廣泛的市場需求。

  通過這些創(chuàng)新,Nexperia不僅增強了在SiC MOSFET市場上的競爭力,還為高功率和高效能的工業(yè)應用提供了可靠的解決方案,推動了電子設備的技術進步和行業(yè)發(fā)展。

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